PID控溫快速溫變?cè)囼?yàn)箱適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測(cè)質(zhì)量之用。 

PID控溫快速溫變?cè)囼?yàn)箱：產(chǎn)品在設(shè)計(jì)強(qiáng)度極限下，運(yùn)用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)時(shí)，產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力,使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變，透過(guò)加速應(yīng)力來(lái)使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵，以避免該產(chǎn)品于使用過(guò)程中，受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效造成不必要的損失，對(duì)于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果，另外應(yīng)力篩本身是一種制程階段的過(guò)程，而不是一種可靠度試驗(yàn)，所以應(yīng)力篩選是100對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行的程序。

滿足試驗(yàn)方法：

GB/T 2423.1-2008 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB/T 2423.2-2008 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GJB 150.3A—2009 高溫試驗(yàn)GJB 150.4A—2009 低溫試驗(yàn)GB/T2423.22—2008 試驗(yàn)Nb 溫度變化試驗(yàn)產(chǎn)品制造標(biāo)準(zhǔn)：GB/T10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB/T11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)業(yè)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則GB/T5170.2 基本參數(shù)檢定方法